型号 CMI-920
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CMI-920
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XDL X-RAY光谱测厚仪,是发展趋势承继其其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列产品,其非毁坏式的测量,尤其合适五金的金属材料镀层薄厚,测量迅速、精准、高质量.如一些五金零件、线路板及测量电镀槽中的金正离子的含量。

菲维尔XDL X-RAY光谱测厚仪,选用了高频次率的占比信号接收器,能够在沒有规范片的状况下,对金属材料五金件的镀层薄厚及电镀液中的正离子含量作出精准的测量,此外在WINFTM BASIC 手机软件的适用下,可测量多至24原素,它是别的知名品牌所不可以的。菲维尔XDL X-RAY光谱膜厚仪的长期性可靠性是十分高的,这使仪器设备降低校准所必须的時间及频次,方便管理仪器设备,并提升 生产率.运用范畴普遍,包含了测量很多的电镀五金件、查验塑料薄膜层(如:装饰艺术铬的镀层)、在电子器件及半导体业中剖析其多功能性的镀层、可用以线路板测量、电镀槽中的药液成分剖析,已变成被广泛运用的全自动测量涂镀层薄厚的专用仪器。